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Japan[P]. HARRY CHISLET.中国专利:US1357688A,1920-11-02
开关电弧材料侵蚀研究
被引：5
作者：
郭凤仪
王其平
孙鹤旭
张静
机构：
[1] 西安交通大学
[2] 辽宁工程技术大学电气工程系
来源：
关键词：
银基触头材料;
银金属氧化物;
侵蚀;
电弧;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM503.3 [];
学科分类号：
摘要：
根据电接触与电弧理沦,对开关电器常用的银基触头材料的电弧侵蚀现象做了试验研究,通过对试验后触头表面的微观分析得出了一些有参考意义的结论.
引用
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页码：370 / 374
页数：5
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