可用于建筑结构检测的分布式光纤形变片附视频

被引：7

作者：

李川

张以谟

刘铁根

丁胜

陈希明

机构：

[1] 天津大学现代光学仪器研究所光电信息技术科学教育部重点实验室

[2] 天津大学现代光学仪

来源：

光子学报 | 2001年 / 10期

关键词：

分布式光纤形变片; 光纤弯曲损耗调制; 位移; 应变; 时分复用; 总线拓扑;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP212.14 [];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

本文在光时域反射计 ( OTDR)和光纤形变片的基础上 ,提出了一种分布式光纤传感器 -分布式光纤形变片 .该检测方法属于 OTDR的损耗调制法 ,即通过测量粘贴于光纤形变片上的光纤弯曲损耗来获取测量点的应变量或位移量 .作者分别在微位移架和悬臂梁进行了位移检测和应变检测 ,结果表明该分布式光纤形变片提供了一种可检测应变量与位移量的检测方法 .值得注意的是 ,该分布式光纤形变片的传感网络采用时分复用的总线拓扑 ,能在一根光纤上同时检测多个检测点的变化

引用

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