基于ATE的FPGA测试方法

被引：12

作者：

吉国凡

赵智昊

杨嵩

机构：

来源：

电子测试 | 2007年 / 12期

关键词：

FPGA; 测试; CLB; 配置;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN791 [];

学科分类号：

080902 ;

摘要：

本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FP- GA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法。

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页数：4

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