XLPE电缆老化状况对绝缘层微观结构的影响

被引：8

作者：

刘刚 ^{[1
]}

吴亮 ^{[1
]}

金尚儿 ^{[1
]}

黄嘉盛 ^{[2
]}

机构：

[1] 华南理工大学电力学院∥广东省绿色能源技术重点实验室

[2] 广州供电局有限公司输电所

来源：

华南理工大学学报(自然科学版) | 2016年 / 44卷 / 08期

基金：

广东省科技计划; 国家高技术研究发展计划(863计划);

关键词：

110 kV XLPE电缆; 电声脉冲法; X射线衍射; 晶体; 空间电荷;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM24 [导电材料及其制品];

学科分类号：

0805 ; 080502 ; 080801 ;

摘要：

对两条退役110 kV XLPE电缆和一条备用电缆进行试验,利用电声脉冲法(PEA)和X射线衍射技术(XRD)研究了老化状况对XLPE电缆绝缘层微观结构的影响.结果表明:电缆的老化会造成绝缘晶体尺寸减小,结晶度降低,因此其捕获空间电荷的能力增强;老化过程始于电缆最外层,而长时间的老化作用对绝缘中间层的影响更大,中间层可能是击穿的薄弱环节;XLPE电缆绝缘老化使绝缘微观结构从"中间高两端低"转变为"均匀化".

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页码：53 / 59

页数：7

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