地表粗糙度参数化研究综述

被引：27

作者：

江冲亚 ^{[1
]}

方红亮 ^{[1
]}

魏珊珊 ^{[1
,2
]}

机构：

[1] 中国科学院地理科学与资源研究所资源与环境信息系统国家重点实验室

[2] 东北师范大学城市与环境科学学院地理系

来源：

地球科学进展 | 2012年 / 27卷 / 03期

关键词：

地表粗糙度; 参数化; 遥感; 尺度;

D O I：

暂无

中图分类号：

P931 [地貌学（地形学）];

学科分类号：

0705 ; 070501 ;

摘要：

粗糙度反映了地表的起伏程度,是许多陆面过程的关键影响因子。然而,人们对地表系统认识的不足,造成现有的各种地表粗糙度参数化方案均存在一定的问题。从地表测量技术、粗糙度相关参数和遥感研究3个方面对地表粗糙度参数化研究现状进行了综述。针式廓线法和激光廓线法是当前主流的地表测量技术,而三维激光扫描和摄影测量技术已展示出了较大的潜力。基于统计方法和基于分形理论的粗糙度相关参数具有截然不同的物理意义,但地表复杂的多尺度特性使得很难用一类参数进行描述。光学遥感与微波遥感均具有广阔的前景,其中前者需要注意与经典粗糙度参数化方案相结合,后者则需拓展在下一代遥感平台上的技术与方法。还针对不同尺度粗糙度参数的比较与转换,地表粗糙度的空间异质性与各向异性,以及三维表面粗糙度参数化等当前地表粗糙度参数化研究中的一些关键问题进行了讨论。

引用

页码：292 / 303

页数：12

共 23 条

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