氢化物－原子荧光光谱法直接测定地质物料中痕量锗

被引：16

作者：

张勤

范凡

李淑娟

周丽沂

机构：

[1] 地矿部物化探研究所

来源：

关键词：

氢化物－原子荧光光谱法,地质物料,锗;

D O I：

10.15898/j.cnki.11-2131/td.1996.04.005

中图分类号：

O657.31 [原子发射光谱分析法];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

采用特种空心阴极灯作激发光源和具有氩氢火焰低温自动点燃装置的原子荧光仪，氢化法直接测定地质物料中痕量锗，方法的测定下限为０．０２μｇ／ｇ，线性范围１～４００μｇ／Ｌ，精密度（ＲＳＤ，ｎ＝１１，１１６μｇ／ｇＧｅ）为１．７９％，加标回收率９７．８％。经标样和大批量样品分析验证，方法可靠实用

引用

页码：50 / 53

页数：4