Seemann-Bohlin X射线薄膜衍射装置的强度分析

被引:7
作者
陶琨
董志力
陈顺英
王并举
机构
[1] 清华大学材料科学研究所
关键词
衍射强度; Seemann-Bohlin X; 衍射装置; 射线管; 射线理论; 强度分析; 结构分析;
D O I
暂无
中图分类号
学科分类号
摘要
研制了无前单色器Seemann-Bohlin掠射聚焦装置,并对Seemann-Bohlin法的衍射强度公式进行了讨论.计算表明:1.此装置测定表面层及薄膜的衍射强度约为普通衍射仪法的7—20倍。用1kW的X射线源即可快速测得7nm金膜的2θ<120.的衍射线.2.厚样品的衍射强度也可达一般衍射仪法的3—20倍.实验证实了这个结果.
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