9—46keV电子引起的Ni的K壳层电离截面

被引：1

作者：

何福庆

龙先灌

彭秀峰

刘慢天

机构：

[1] 四川大学原子核科学技术研究所

来源：

关键词：

Electron impact; Characteristic X-ray; Ionization cross section;

D O I：

暂无

中图分类号：

O562.4 [原子间的作用、激发与电离];

学科分类号：

摘要：

用Ｓｉ（Ｌｉ）探测器测量薄Ｎｉ靶在９—４６ＫｃＶ的电子轰击下产生的Ｋ壳层特征Ｘ射线，以确定其Ｋ壳层电子的电离截面。测量结果与前人的实验和理论计算以及经验公式的计算结果作了比较。

引用

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