圆光栅副的系统误差分析

被引:2
作者
史玉苓
徐成
韦春才
机构
关键词
光电编码盘; 误差; 光栅;
D O I
暂无
中图分类号
TN29 [光电子技术的应用];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
圆光栅副的系统误差主要包括微量不等距系统误差,均匀性误差,光栅栅线刻划误差等三种误差。分析它们产生的原因和它们对莫尔条纹的影响
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共 1 条
[1]   高分辨率、增量式光电编码器 [J].
史玉苓 ;
徐成 ;
谢军 .
仪表技术与传感器, 1995, (03) :23-25