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数模混合信号的测试与仿真
被引：3
作者：
徐卫林
何怡刚
厉芸
机构：
[1] 湖南大学电气与信息工程学院
[2] 湖南大学电气与信息工程学院 湖南长沙
[3] 湖南长沙
来源：
关键词：
片上系统;
混合信号;
扫描测试;
内置自测试;
故障仿真;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
VL SI的发展特别是 So C的出现 ,对混合信号测试的研究提出了紧迫的要求。结合系统级芯片的可测试性设计技术所面临的技术难点 ,本文着重讨论了目前现有的各种测试手段及其各自的特点。
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页数：4
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