氧化还原荧光法测定痕量亚硝酸根

被引：26

作者：

朱展才

许文伟

汪静

机构：

[1] 漳州师范学院化学系!漳州,漳州师范学院化学系!漳州,漳州师范学院化学系!漳州

来源：

分析化学 | 2001年 / 08期

关键词：

荧光光度法; 亚硝酸根; 氧化还原反应; 异硫氰酸荧光素;

D O I：

暂无

中图分类号：

O657.3 [光化学分析法（光谱分析法）];

学科分类号：

摘要：

建立了碘化钾与亚硝酸根氧化还原反应生成游离碘使异硫氰酸荧光素荧光猝灭测定痕量亚硝酸根的新方法。其线性范围为 2 5～ 1 0 0 μg L,回归方程为ΔF =7.98C -1 0 .5 ,r =0 .9990 ,方法的检测限为 1 2 μg L。本法快速、灵敏 ,操作简便 ,用于水样中痕量亚硝酸根的测定 ,结果良好。

引用

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共 7 条

[1] 甲基紫用作光度法测定亚硝酸根 [J].