微光成像系统信噪比及图像探测特性研究

被引:4
作者
左昉
高稚允
机构
[1] 中国科学院半导体研究所
[2] 北京理工大学 北京
[3] 北京
关键词
电子技术; 微光成像; 电子轰击电荷耦合器件; 信噪比; 调制传递函数;
D O I
暂无
中图分类号
TN223 [微光技术、微光夜视仪];
学科分类号
0803 ; 080401 ; 080901 ;
摘要
分析了电子轰击电荷耦合器件 (EBCCD)微光成像系统的噪声源 ,建立了系统的信噪比模型 ,指出了在微光成像系统本身的增益和量子效率等性能确定的条件下 ,成像系统输出图像信噪比不仅仅与输入面照度有关 ,还与输入图像的空间频率有关 ,并通过实验得到了证明 ,指出了经典的图像探测方程 (Rose方程 )的不完善之处
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共 2 条
[1]  
电真空成像器件及理论分析.[M].邹异松编著;.国防工业出版社.1989,
[2]  
阴极电子学.[M].承欢;江剑平 编.西北电讯工程学院出版社.1986,