学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
平面结构非均匀体系的介电驰豫─—组成相的数目与电导对弛豫的影响
被引:2
作者
:
赵孔双,花井哲也
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室,京都大学化学研究所
赵孔双,花井哲也
机构
:
[1]
厦门大学化学系,固体表面物理化学国家重点实验室,京都大学化学研究所
来源
:
电化学
|
1995年
/ 03期
基金
:
中国博士后科学基金;
关键词
:
界面极化,介电弛豫,非均匀体系,三层结构;
D O I
:
10.13208/j.electrochem.1995.03.013
中图分类号
:
TQ150.1 [基础理论];
学科分类号
:
摘要
:
非均匀体系在0.1kHz~10MHz频率范围显示出显著的介电弛豫,为了弄清介电弛豫的原因以及该弛豫与非均匀体系界面数目的关系,本文从介电的观点在理论及实验两方面讨论了典型的非均匀体系的例子:膜/溶液体系。特别地,对频率域的介电弛豫谱与组成相的结构及浓度的关系进行了分析,并在Maxwell-Wagner机理的基础上现象论地解释了弛豫的原因。非均匀体系的介电弛豫性质具有下列特征:(1)介电弛豫数目等于体系内界面种类的数目;(2)特征弛豫频率紧密地依存于溶液相的电导。
引用
收藏
页码:326+319 / 325
页数:8
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据