边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用

被引：2

作者：

察豪

杨智

冷东方

机构：

[1] 海军电子工程学院!南京

[2] 中国人民解放军部队!秦皇岛

来源：

现代雷达 | 2000年 / 01期

关键词：

边界扫描测试; BIT电路;

D O I：

10.16592/j.cnki.1004-7859.2000.01.010

中图分类号：

TN957.8 [雷达设备的机械结构];

学科分类号：

摘要：

提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试 (BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的 I/ O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对 VL SI集成电路芯片的故障诊断。

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共 1 条

[1] IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture(IEEE Std 1149. 1-1990). Institute of Electrical and Electronic Engineers,Inc. . 1990