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IGBT动态参数测试方法分析
被引:3
作者
:
郑大勇
论文数:
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引用数:
0
h-index:
0
机构:
工业和信息化部电子第五研究所
郑大勇
陈广聪
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0
机构:
工业和信息化部电子第五研究所
陈广聪
机构
:
[1]
工业和信息化部电子第五研究所
来源
:
电子产品可靠性与环境试验
|
2013年
/ 31(S1)卷
/ S1期
关键词
:
绝缘栅双极晶体管;
动态参数;
双脉冲;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN322.8 [];
学科分类号
:
摘要
:
主要基于IEC 60747-9:2007进行IGBT动态参数的研究,介绍了IGBT相关动态参数原理以及双脉冲测试方法,并对双脉冲测试方法和单脉冲测试方法进行了对比分析,最后通过实际的器件测试对双脉冲测试方法进行了分析和总结。
引用
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页码:247 / 250
页数:4
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陈娜
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机构:
浙江大学电气工程学院
陈娜
;
何湘宁
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机构:
浙江大学电气工程学院
何湘宁
;
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