基于Poisson-Normal过程性能退化模型的可靠性分析

被引：13

作者：

张永强

冯静

刘琦

周经伦

机构：

[1] 国防科技大学信息系统与管理学院

来源：

系统工程与电子技术 | 2006年 / 11期

关键词：

可靠性; 性能; 退化; 正态分布; 泊松过程;

D O I：

暂无

中图分类号：

F224 [经济数学方法];

学科分类号：

0701 ; 070104 ;

摘要：

对于高可靠长寿命产品,基于性能退化数据分析产品可靠性是一种行之有效的技术途径。由于有时无法用确定的物理/化学过程定量描述性能退化过程,借助随机过程方法建立退化模型是有效的技术途径。提出了基于Poisson-Normal过程的性能退化模型,给出了参数估计算法和可靠性估计的计算公式,结合实例说明了方法的有效性。

引用

页码：1775 / 1778

页数：4

共 7 条

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