模拟集成电路的测试节点选择

被引：16

作者：

孙秀斌

陈光(?)

谢永乐

机构：

[1] 电子科技大学自动化工程学院

[2] 电子科技大学自动化工程学院成都

[3] 成都

[4] 成都

来源：

电子与信息学报 | 2004年 / 04期

关键词：

可测性测度; 行列式判决图; 模拟集成电路;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN431 [双极型];

学科分类号：

摘要：

如何寻求一个最佳的测试节点或测试矢量集是模拟集成电路的故障诊断中的重要问题。该文提出了一种基于可测性测度计算的测试节点选择方法。利用行列式判决图,可以有效而准确地求得被测电路传输函数的符号表达式和计算出其可测性测度。该方法完全消除了由数字方法引入的不可避免的舍入误差,并能处理中、大规模的集成电路.

引用

页码：645 / 650

页数：6

共 4 条

[1]

A new efficient method for analog circuit testability measurement, in Proc. Liberatore A,Manetti S,Piccirilli M C. of Instrumentation and Measurement Technology Conference, Hamamatsu, Japan . 1994

[2]

Conditions for network-element-value solvability. Berkowitz R S. IEEE Transactions on Circuit Theory . 1962

[3]

A new symbolic method for analog circuit testability evaluation. Fedi G,Luchetta A,Manetti S,Piccirilli M C. IEEE Trans, on Instrumentation and Measurement . 1998

[4]

A measure of testability and its application to test point selection theory, in Proc.of the 20th Midwest Symposium on Circuits and Systems, Lubbock, Texas Tech. Sakes R. Univ . 1977

← 1 →