由氧化层厚度估算化学反应扩散掺杂量的研究

被引:2
作者
魏晋云
机构
[1] 云南师范大学太阳能研究所
关键词
太阳电池,氧化层,厚度,估算,掺杂量;
D O I
暂无
中图分类号
TM914.4 [太阳能电池];
学科分类号
080502 ;
摘要
在化学反应扩散制备p/n结的过程中,伴随生成的SiO2薄膜的厚度与扩散进入硅中的掺杂量有确定的关系(QSi=cd),由此可由氧化层厚度简便地估算扩散掺杂量。
引用
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共 2 条
[1]  
太阳电池及其应用.[M].赵富鑫;魏彦章 主编.国防工业出版社.1985,
[2]  
半导体器件工艺原理.[M].厦门大学物理系半导体物理教研室 编.人民教育出版社.1977,