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利用Innography进行专利情报分析——以OLED为例
被引:22
作者:
战玉华
潘乐影
程爱平
机构:
[1] 清华大学图书馆
来源:
关键词:
专利分析;
Innography;
有机发光二极管;
OLED;
D O I:
暂无
中图分类号:
G353.1 [情报资料的分析和研究];
学科分类号:
摘要:
指出作为众多专利分析工具中的一种,Innography具有专利检索、统计分析及核心专利挖掘等功能。以典型课题有机发光二极管(OLED)为例,探索Innography在专业情报分析中的价值,阐述如何利用Innography获取全球专利信息,利用专利强度指标挖掘核心专利,对相关专利进行统计分析,得出科学的结论。总结Innography的特点及不足,强调专利情报分析必须准确和全面。
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