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直流磁控溅射铂电阻薄膜
被引:10
作者
:
周鸿仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学信息材料工程学院
周鸿仁
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
刘秀蓉
徐蓓娜
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学信息材料工程学院
徐蓓娜
不详
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
电子科技大学信息材料工程学院
不详
机构
:
[1]
电子科技大学信息材料工程学院
来源
:
电子科技大学学报
|
1997年
/ 06期
关键词
:
铂薄膜;热敏电阻;磁控溅射;热处理;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TB43 [薄膜技术];
学科分类号
:
0805 ;
摘要
:
根据薄膜理论和通过成膜工艺实验,研究了影响铂薄膜电阻温度系数的主要因素。1)对铂靶材料的纯度要求高,含杂质极少;2)淀积薄膜要有一定厚度,通常近于1μm才能有较大的α;3)成膜以后,需经过高温热处理,减少缺陷,结晶化改善。通过大量实验,使用高铝陶瓷基片或微晶玻璃基片,溅射铂薄膜的厚度为800nm,高温热处理1h,可以获得电阻温度系数为3.850×10-3/℃的铂电阻薄膜。
引用
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页数:4
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[1]
航天飞机中的温度测量
[J].
陈康琪
论文数:
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机构:
航天部七○四所
陈康琪
.
遥测遥控,
1988,
(02)
:39
-44
[2]
薄膜物理[M]. 电子工业出版社 , 曲喜新, 1994
[3]
表面与界面物理[M]. 电子科技大学出版社 , 恽正中等编, 1993
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