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元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合
被引：16
作者：
龚自立
贾新章
白永亮
机构：
[1] 西安电子科技大学微电子研究所!陕西西安
来源：
关键词：
可靠性;
统计分布;
拟合;
非线性最小二乘法;
拟合优度检验;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN405 [制造工艺];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
在元器件质量和可靠性分析中 ,往往要确定试验和测试数据的统计分布规律 .针对元器件质量和可靠性问题的数据特点 ,采用非线性最小二乘法拟合方法 ,并开发了相应的计算机程序 ,用于自动确定数据的统计分布规律 ,对实际生产线采集的数据进行分析处理 ,其精度明显优于传统方法 .
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