元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合

被引：16

作者：

龚自立

贾新章

白永亮

机构：

[1] 西安电子科技大学微电子研究所!陕西西安

来源：

关键词：

可靠性; 统计分布; 拟合; 非线性最小二乘法; 拟合优度检验;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN405 [制造工艺];

学科分类号：

摘要：

在元器件质量和可靠性分析中 ,往往要确定试验和测试数据的统计分布规律 .针对元器件质量和可靠性问题的数据特点 ,采用非线性最小二乘法拟合方法 ,并开发了相应的计算机程序 ,用于自动确定数据的统计分布规律 ,对实际生产线采集的数据进行分析处理 ,其精度明显优于传统方法 .

引用

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