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硅微构件的弹性模量和残余内应力的测试
被引:1
作者
:
叶雄英,杨岳,周兆英,李勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
清华大学精仪系
叶雄英,杨岳,周兆英,李勇
机构
:
[1]
清华大学精仪系
来源
:
机械工程学报
|
1997年
/ 03期
关键词
:
微型机械,微构件,弹性模量,残余内应力,测量;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN304 [材料];
学科分类号
:
0805 ;
080501 ;
080502 ;
080903 ;
摘要
:
叙述了利用硅悬臂梁和两端固定梁微构件进行硅微薄膜材料的弹性模量和残余内应力的测试方法。本方法利用简单的光学装置,通过测量悬臂梁和两端固定梁的一阶谐振频率,分别嵡蟮阅A亢筒杏嗄谟αΑ1痉椒ú饬肯低臣虻ィ匝谱鞣奖悖臼匝榛竦茫ǎ保埃埃┟妫迹保保埃緧方向单晶硅微薄膜的弹性模量为128GPa。残余内应力为74.7MPa。
引用
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页码:108 / 112
页数:5
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