目的 探讨不同G值重复暴露后大鼠脑神经元损伤及其区域分布特点 .方法 将 5 3只雄性SD大鼠随机分为对照组、+2Gz,+6Gz,+10Gz和 +10Gy暴露组 .分别在暴露后 6h ,1d ,3d处死取脑 ,做石蜡或电镜超薄切片 ,利用光镜和电镜 ,观察不同G值重复暴露后 ,脑神经元形态学和超微结构的变化 .结果 +2Gz重复暴露组无明显的脑神经元形态学变化 .+6Gz重复暴露后 6h可见脑神经元超微结构的轻度变化 ,2 4h恢复正常 .+10Gz和 +10Gy重复暴露后 ,分别在海马CA1区、下丘脑、梨状皮层和左颞叶皮层、左梨状皮层 ,可见一定数量的变性神经元及重度的超微结构损伤 .结论 高G值重复暴露可引起大鼠特定脑区的神经元损伤 ,可能系机械力所致