铜胁迫下玉米叶绿素质量比与光谱反射率关系

被引：10

作者：

刘帅 ^{[1
]}

高永光 ^{[2
]}

机构：

[1] 东华理工大学地球科学学院

[2] 中国人民解放军部队

来源：

辽宁工程技术大学学报(自然科学版) | 2008年 / 01期

关键词：

铜胁迫; 高光谱遥感; 光谱反射率; 红边;

D O I：

暂无

中图分类号：

S513 [玉米（玉蜀黍）];

学科分类号：

摘要：

通过对不同程度重金属铜污染土壤(16个样本)上玉米叶绿素浓度和相应的玉米冠层光谱反射率数据测试,进行铜胁迫下玉米叶绿素浓度与光谱数据相关分析研究,研究结果表明:铜胁迫下玉米叶绿素浓度与其光谱反射率之间具有相关性,在350～695nm光谱区内相关性最好,且在464nm处两者达到最高的相关性;铜胁迫下玉米的"红边"随着铜污染程度的加剧而发生有规律地"蓝移";铜胁迫下玉米的"红边"波长位置与其叶绿素浓度之间具有很强的相关性,复相关系数为0.884,由此可看出利用野外地物光谱数据定量估算和分析铜胁迫下玉米的叶绿素浓度是可行的。

引用

页码：125 / 128

页数：4

共 4 条

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