关于发展我国高精度工业摄影测量的几个问题

被引:17
作者
冯文灏
机构
[1] 武汉测绘科技大学!
关键词
多站摄影; 回光反射标志; 高精度坐标仪; 准二值影像;
D O I
暂无
中图分类号
P231.2 [摄影测量控制];
学科分类号
摘要
本文在分析国内外工业摄影测量现状的基础上,总结高精度工业摄影测量的四项关键技术,并结合一些试验,对发展我国相应领域的工作提出了具体建议。
引用
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