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片式元件焊点的热循环应力应变模拟技术研究
被引:10
作者
:
周斌
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机构:
信息产业部电子第五研究所国家级重点实验室
周斌
邱宝军
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机构:
信息产业部电子第五研究所国家级重点实验室
邱宝军
罗道军
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机构:
信息产业部电子第五研究所国家级重点实验室
罗道军
机构
:
[1]
信息产业部电子第五研究所国家级重点实验室
来源
:
电子元件与材料
|
2008年
/ 07期
关键词
:
电子技术;
片式元件焊点;
应力应变;
疲劳寿命;
有限元法;
D O I
:
10.14106/j.cnki.1001-2028.2008.07.019
中图分类号
:
TN605 [制造工艺及设备];
学科分类号
:
摘要
:
采用ANSYS软件,以0402片式元件焊点为对象,系统探讨了焊点热应变损伤的有限元仿真方法,分析了焊点在热循环过程中的应力应变响应,并基于修正的Coffin-Manson方程,预测了焊点的热疲劳寿命。结果显示:焊点应力集中区域和应变最大区域均位于焊点与PCB焊盘的交界面,基于应变失效原则,推断焊点裂纹将在此界面萌生和扩展,直至失效。指出了焊点有限元热应变损伤模拟技术的不足及未来的研究方向。
引用
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页码:58 / 61
页数:4
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