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论硅的各向异性腐蚀
被引:6
作者
:
吴宪平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
复旦大学电子工程系
吴宪平
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
鲍敏杭
机构
:
[1]
复旦大学电子工程系
来源
:
传感器技术
|
1987年
/ 01期
关键词
:
各向异性腐蚀;
硅片;
晶向;
削角;
凸角;
晶体学方向;
掩模图;
D O I
:
10.13873/j.1000-97871987.01.005
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文论述了用于固态传感制备的〈100〉和〈110〉晶向硅片各向异性腐蚀的特点和机理;对掩模图形边缘取向和(100)硅矩形台而凸角处的削角现象进行了探讨;对各种各向异性腐蚀剂的配方与性能进行了对比;并列腐蚀残留物成分与形成条件进行了分析与研究。
引用
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页码:26 / 31
页数:6
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