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应用边界扫描机制实现电子设备系统级测试
被引：5
作者：
胡政
杨拥民
温熙森
机构：
[1] 国防科技大学
来源：
关键词：
测试性设计;
边界扫描;
系统级测试;
D O I：
10.19651/j.cnki.emt.1997.03.008
中图分类号：
TN06 [测试技术及设备];
学科分类号：
摘要：
文中讨论了应用IEEE1149.1边界扫描机制实现电子设备系统级测试的方法。并就集中测试和分布式测试策略的实施及优缺点进行了具体阐述,为电子设备系统级测试性设计和具体实施提供了指导性的意见。
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