微胶囊膜厚的测定及其对释放速率的影响

膜厚是微胶囊重要性能之一,直接影响芯料释放速率,较为难测。本文提出一种测定膜厚的新方法——光学显微镜二次聚焦法,即用光学显微镜二次聚焦直接测出微胶囊内、外径而得膜厚。计算发现微胶囊等光程曲线连续而不光滑(即有拐点),从光学原理上证明此法可行;观察二次聚焦的光学显微图象,发现存在贝克线、从实验结果上间接证明此法可行;此法测定的膜厚与经典法测定的膜厚相比,结果基本一致,证实此法准确。在上述理论基础上,采用相分离法制备一系列不同工艺的微胶囊,分别测出膜厚及芯料释放速率,从而揭示微胶囊膜厚对芯料释放速率的影响规律。