一种基于数学形态学的墙地砖表面缺陷检测方法

被引：5

作者：

戴勇

周成平

钟克洪

机构：

[1] 华中科技大学图像识别与人工智能研究所

[2] 图象信息处理与智能控制教育部开放实验室

来源：

关键词：

数学形态学; 表面检测; 瓷质墙地砖;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.2 [];

学科分类号：

摘要：

介绍了一种利用数学形态学来检测瓷质墙地砖表面缺陷的方法。该方法通过优化形态学结构元素使图象中正常的纹理变化经滤波后响应最小,而缺陷纹理却不受影响,以达到缺陷检测的目的。实验结果证明了该方法在实际应用中的可行性。

引用

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