电阻抗成像技术的原理及其发展

被引：12

作者：

程吉宽

孙进平

杜岩

柳重堪

机构：

[1] 北京航空航天大学电子工程系

来源：

北京航空航天大学学报 | 1998年 / 02期

关键词：

图像处理；重建；数据采集；反问题；电阻抗成像（EIT）;

D O I：

10.13700/j.bh.1001-5965.1998.02.004

中图分类号：

TM938.84 [生物量];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

介绍了一种新的图像重建技术———电阻抗成像（ＥＩＴ）技术．它根据物体内部不同物质的导电参数（如电阻率、电容率）的不同，通过对物体表面电流、电压的施加及测量来获知物体内部导电参数的分布，进而重建出反映物体内部结构的图像．作为一个数学物理反问题，ＥＩＴ技术具有其本身的特点和难点，因而目前还处于探索性研究阶段．本文在ＥＩＴ数学物理模型基础上对整个ＥＩＴ技术作了较为全面的介绍，包括理论原理、技术上的难点、系统分析、以及目前国际国内的研究现况和研究方向．通过对ＡＣＴ３的介绍，对ＥＩＴ系统的具体实现也做了简要分析．

引用

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