对绝缘子表面电荷积聚机理的讨论

被引:46
作者
刘志民
邱毓昌
冯允平
机构
[1] 西安交通大学
关键词
电介质,表面电荷,积聚,机理;
D O I
10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.1999.02.015
中图分类号
TM216.014.6 [];
学科分类号
摘要
从电磁场基本方程组出发,给出非均质介质中绝缘子表面电荷积聚的规律,揭示其物理本质和关键影响因素;研究了不同绝缘介质的交界面电荷积聚的方式和特点。用本文提出的理论可以解释文献报导的三种积聚模型,为分析绝缘子表面电荷积聚状况提供了理论依据。
引用
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