红外检测中缺陷大小和深度的测量

被引：21

作者：

王永茂

郭兴旺

李日华

机构：

[1] 北京航空航天大学机械工程及自动化学院

[2] 北京航空航天大学机械工程及自动化学院北京

[3] 北京

来源：

关键词：

红外检测; 热层析; 无损检测;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN219 [红外技术的应用];

学科分类号：

0803 ; 080401 ; 080901 ;

摘要：

文中介绍了红外层析检测的基本原理 ,重点讲述了缺陷深度和缺陷大小的测量方法

引用

页码：404 / 406

页数：3

共 7 条

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