CCD噪声分析及处理技术

被引：105

作者：

许秀贞

李自田

薛利军

机构：

[1] 中国科学院西安光学精密机械研究所

[2] 中国科学院西安光学精密机械研究所陕西西安

[3] 陕西西安

来源：

关键词：

CCD; 暗电流噪声; 输出噪声; 相关双采样;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN386.5 [电荷耦合器件];

学科分类号：

0805 ; 080501 ; 080502 ; 080903 ;

摘要：

为了提高CCD的工作性能,根据CCD器件的工作原理,对CCD图像的噪声组成进行了较完整的分析,给出了其噪声的详细分类。根据各噪声的特点,提出了相应的噪声处理技术,并针对输出噪声,给出了双相关采样法、双斜积分法、钳位采样法三种相关双采样电路处理方式,使器件的信噪比得以提高。

引用

页码：343 / 346+357 +357

页数：5