陷阱探测器面响应均匀性的测量

被引：5

作者：

林延东

姚和军

吕正

机构：

[1] 中国计量科学研究院!北京

来源：

现代计量测试 | 2000年 / 03期

关键词：

探测器; 陷阱探测器; 面响应均匀性;

D O I：

10.16428/j.cnki.cn11-4827/t.2000.03.004

中图分类号：

TL81 [辐射探测技术和仪器仪表];

学科分类号：

082607 [智能探测与制导控制技术];

摘要：

对陷阱探测器的面响应均匀性进行了测量。在主要灵敏面内 ,面响应均匀性测量结果的重复性达到 4×10 -5。给出了对 S1337、S12 2 7等 4种不同硅光电二极管构成的陷阱探测器的面响应均匀性的测量结果。测量结果表明 ,不同类型探测器之间面响应不均匀性存在显著差异 ,其中 S1337构成的陷阱探测器的面响应均匀性最好。正确选择合适类型探测器 ,对保持和传递低温辐射计达到的很低的不确定度非常重要。

引用

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