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TDI-CCD的空间分辨率特性
被引:14
作者
:
蒋光伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中国科学院上海技术物理研究所
蒋光伟
机构
:
[1]
中国科学院上海技术物理研究所
来源
:
红外
|
2001年
/ 09期
关键词
:
TDI-CCD;
分辨率;
MTF;
噪声;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN386.5 [电荷耦合器件];
学科分类号
:
摘要
:
TDI-CCD的极限分辨率为空间采样频率的一半,且受到像元几何孔径、电荷转移失效率、速度匹配和电荷转移离散运动的影响。在低光照度下,分辨率则将受到噪声限制。TDI级数对分辨率的影响被详细分析。结果表明TDI-CCD具有优良的低光照扫描特性。
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页码:17 / 21
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