嵌入式计算机的BIT设计与实现

被引:5
作者
刘少雄
喻卫东
机构
[1] 华东计算技术研究所
关键词
可测试性设计; 机内测试; 测试用例;
D O I
暂无
中图分类号
TP368.1 [微处理机];
学科分类号
摘要
依据嵌入式计算机组成特点,在可测试性设计中采用层次式测试硬件结构,通过分布式测试控制管理,实现从器件级、模块级到子系统级、系统级的逐级测试。在BIT测试中,以CPU测试为例解析了测试用例数据、用例过程、执行控制和判决的组织与实现。
引用
收藏
页码:115 / 116+119 +119
页数:3
相关论文
共 1 条
  • [1] PowerPC User Instruction Set Architecture. IBM. . 2005