学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
高导低温银浆的研究及可靠性评价
被引:6
作者
:
傅俊川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
傅俊川
谭富彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭富彬
曾德钧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曾德钧
谭力文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谭力文
机构
:
来源
:
贵金属
|
1981年
/ 03期
关键词
:
银粉;
银浆;
片状结构;
板状结构;
土壤结构;
导电涂层;
体电阻率;
高导;
可靠性评价;
低温;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
学科分类号
:
摘要
:
本文研究了银粉的形态结构和含量对高导低温银浆性能的影响;指出了用片状结构的银粉制备高导低温银浆,可获得体电阻率10-4~10-5欧姆厘米,抗剪强度15公斤/厘米2,可焊性良好的银白色导电涂层。最后,对本银浆在固体钽电容器上的使用进行了可靠性评价。
引用
收藏
页码:11 / 17
页数:7
相关论文
共 1 条
[1]
贵金属材料加工手册[M]. 冶金工业出版社 , 《贵金属材料加工手册》编写组编, 1978
←
1
→
共 1 条
[1]
贵金属材料加工手册[M]. 冶金工业出版社 , 《贵金属材料加工手册》编写组编, 1978
←
1
→