高导低温银浆的研究及可靠性评价

被引:6
作者
傅俊川
谭富彬
曾德钧
谭力文
机构
关键词
银粉; 银浆; 片状结构; 板状结构; 土壤结构; 导电涂层; 体电阻率; 高导; 可靠性评价; 低温;
D O I
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摘要
本文研究了银粉的形态结构和含量对高导低温银浆性能的影响;指出了用片状结构的银粉制备高导低温银浆,可获得体电阻率10-4~10-5欧姆厘米,抗剪强度15公斤/厘米2,可焊性良好的银白色导电涂层。最后,对本银浆在固体钽电容器上的使用进行了可靠性评价。
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贵金属材料加工手册[M]. 冶金工业出版社 , 《贵金属材料加工手册》编写组编, 1978