环境气压对脉冲激光烧蚀沉积纳米Si薄膜表面粗糙度的影响

被引:9
作者
王英龙
张荣梅
傅广生
彭英才
孙运涛
机构
[1] 河北大学物理科学与技术学院
[2] 河北大学电子信息工程学院
[3] 河北大学物理科学与技术学院 河北保定
[4] 河北保定
关键词
薄膜物理学; Si纳米薄膜; 脉冲激光烧蚀; 表面粗糙度;
D O I
暂无
中图分类号
O484.1 [薄膜的生长、结构和外延];
学科分类号
080501 ; 1406 ;
摘要
薄膜表面粗糙度是表征薄膜质量的重要指标 ,为了探求环境气压对脉冲激光烧蚀沉积纳米Si薄膜表面粗糙度的影响 ,采用XeCl脉冲准分子激光器 ,分别在惰性气体氦气和氩气的不同气压环境下烧蚀沉积了纳米Si薄膜 ,用TencorInstrumentsAlpha Step 2 0 0台阶仪对相应薄膜的表面粗糙度进行了测量。结果表明 ,薄膜表面粗糙度开始随着气压的增大而逐渐增加 ,在达到一最大值后便随着气压的增大而减小。由不同气体环境下的结果比较可以看出 ,充氩气所得Si薄膜表面粗糙度比充氦气的小 ,最大粗糙度强烈地依赖于气体种类。对于原子质量较大的氩气而言 ,其最大粗糙度仅比低气压时高出 11% ,而对于原子质量较小的氦气来说 ,其最大粗糙度比低气压时高出314 %。
引用
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共 1 条
[1]   Influence of inert gas pressure on deposition rate during pulsed laser deposition [J].
Scharf, T ;
Krebs, HU .
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING, 2002, 75 (05) :551-554