基于STM32的全相位FFT相位差测量系统

被引：7

作者：

邱良丰

刘敬彪

于海滨

机构：

[1] 杭州电子科技大学电子信息学院

来源：

电子器件 | 2010年 / 33卷 / 03期

关键词：

相位测量; STM32; 全相位FFT; 仿真测试;

D O I：

暂无

中图分类号：

TM935.2 [波形参数测量及仪器];

学科分类号：

080802 ;

摘要：

针对军用和民用工程领域信号相位差测量的需要,基于全相位测量理论,使用ARM公司的高性能32Bit CortexM32内核处理器STM32F103,设计并制作了一个低成本,结构简单,处理速度快而有效的相位差测量系统,通过采样了127个点,处理后做64个点的FFT,实现了信号相位差的测量。测试结果表明有效分辨精度为1度。

引用

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