用压电晶体测定痕量的二氧化硫

<正> 利用压电晶体测定二氧化硫（SO2）方法的基本原理是:在一个振荡回路中,石英晶片的振荡频率是一定的,但当晶片重量发生变化时,频率也将随之改变。如在晶片上涂一层能吸附SO2的化学物质,当涂层吸附SO2后,就会引起频率下降,且减少的频率与被吸附的气体量呈线性关系。只要涂层对SO2的吸附是可逆的,就能反复进行测定。我们设计了一个压电晶体SO2探测器的实验室测量装置,并对1～14ppm SO2的测定,获得了线性结果,还对进样时间、涂层频率的回复时间、测量数据的精密度、水汽的影响及消除水汽干扰的方法等作了一些研究。