用于绝缘子表面电荷测量的电容探头法的标度问题

被引：7

作者：

汪沨

胡红利

张乔根

陈庆国

邱毓昌

机构：

[1] 西安交通大学电气工程学院

来源：

高压电器 | 2002年 / 02期

关键词：

绝缘子; 表面电荷; 测量; 标度;

D O I：

10.13296/j.1001-1609.hva.2002.02.013

中图分类号：

TM934 [集中参数、分布参数的测量及仪表];

学科分类号：

摘要：

80年代初 ,电容探头测量绝缘子表面电荷技术开始应用于高压领域 ,但由于问题的复杂性 ,该方法无论是在原理上还是在技术上都还有待于进一步完善。笔者综述了这一技术的原理、最新研究成果和将来可能的研究课题

引用

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页数：4

共 4 条

[1] 对绝缘子表面电荷积聚机理的讨论 [J].

刘志民 ;

邱毓昌 ;

冯允平 .

电工技术学报, 1999, (02) :65-68

[2]

GIS装置及其绝缘技术.[M].邱毓昌主编;.水利电力出版社.1994,

[3]

工程电磁场数值分析.[M].盛剑霓等编著;.西安交通大学出版社.1991,

[4]

Analytical Method for Evaluating Surface Charge Distribution on a Dielectric from Capacitive Probe Measurement-application to Cone-type Spacer in ±500 kV DC-GIS..Ootera H et al;.IEEE Trans. on Power Delivery.1988,

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