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基于边界扫描技术的集成电路测试系统设计与实现
被引：3
作者：
陆鹏
谢永乐
机构：
[1] 电子科技大学自动化工程学院
来源：
关键词：
边界扫描;
IEEE1149.1标准;
集成电路测试;
D O I：
暂无
中图分类号：
TN407 [测试和检验];
学科分类号：
080903 ;
1401 ;
摘要：
介绍了边界扫描的技术原理,及其在集成电路测试中的具体应用,并给出了一种基于边界扫描技术的板级集成电路测试系统的方案及实现。
引用
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页数：3
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