基于单元故障模型的树型加法器的测试

被引：3

作者：

李兆麟

盛世敏

吉利久

王阳元

机构：

[1] 清华大学计算机科学与技术系高性能研究所,北京大学微电子学研究所,北京大学微电子学研究所,北京大学微电子学研究所北京,北京,北京,北京

来源：

计算机学报 | 2003年 / 11期

关键词：

树型加法器; 单元故障模型; 测试向量生成; 内建自测试;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN407 [测试和检验];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

首先分析了树型加法器的原理 ,总结了其运算特性 .其次在介绍单元故障模型的基础上分析了树型加法器的测试向量生成 .分析结果表明 ,5n - 1个测试向量可以实现树型加法器中所有单元故障的检测 .这些测试向量具有很好的规则性 ,能够利用片上测试向量生成器实现 ,适合于应用内建自测试技术测试 .基于此 ,作者提出了一种内建自测试的测试结构 ,测试时只需存储 7个籽测试向量 ,其它测试向量可以在这 7个籽测试向量的基础上通过循环移位实现 .最后给出了实验分析结果 .

引用

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