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基于漏磁通的缺陷信号分析
被引:3
作者
:
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
汪友生
机构
:
[1]
北京工业大学信号与信息处理实验室!北京,
来源
:
北京工业大学学报
|
1999年
/ 03期
关键词
:
漏磁;
缺陷;
信号分析;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TN98 [];
学科分类号
:
摘要
:
基于漏磁通的检测技术,实现了对工件检测的全自动化且高速高效.通过对漏磁信号的分析,对缺陷进行定量判断,从而使对有损工件的处理更加合理化,提高了工件的利用率.
引用
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页数:6
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[1]
Magnetic field leakage due to a surface crack. Ko,Francis. Brit of NDT . 1975
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