采用CCD的非接触测量中提高精度的一种方法

被引：37

作者：

李佳列

丁国清

颜国正

朱洪海

机构：

[1] 上海交通大学信息检测技术及仪器系

来源：

关键词：

电荷耦合器件; 尺寸测量; 边缘检测; 梯度;

D O I：

暂无

中图分类号：

TP274.5 [];

学科分类号：

摘要：

利用CCD传感器对工件进行测量是非接触测量领域的常用方法 ,但受到CCD像元特征尺寸的限制 ,测量精度往往只能达到微米级 ,限制了该系统在非接触测量方面的更广泛应用。本文从算法角度提出了一种提高CCD精度的方法。实验证明 ,方法能将测量的精度提高一个数量级

引用

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页数：4

共 5 条

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