X荧光分析地质样品时的制样方法

被引:22
作者
王毅民
机构
[1] 地质矿产部岩矿测试研究所
关键词
地质样品; 地质材料; 粉末压片; 熔样机; 日常分析; 主元素分析; 化探样品; 薄样技术; 样品分析; 试样分析; 熔剂; 焊接材料; 硼酸盐玻璃; 熔片; 制样方法; 稀释比; 稀释倍数; 荧光分析; 荧光光谱分析; 发光分析;
D O I
10.15898/j.cnki.11-2131/td.1988.01.021
中图分类号
学科分类号
摘要
<正> 近年来,X射线荧光(XRF)分析技术的迅速发展和在地质样品分析中的广泛应用,特别是在岩石全分析和化探样品分析中已经发挥的作用使不少岩矿分析者产生了兴趣。人们看到,它不再像二十年前认为的那样,只是测定化学上较难分离的铌、钽、锆、铪和稀土等元素的有效方法,而已成为能测定多种类型地质样品中主要,次要和许多痕量元素的强有力的常规分析手段。要充分发挥这类高效能仪器作用,就需要更多的分析者了解它,使用它。要熟练地掌握XRF分析技术是要经过学习和专门训练的。但这种自动仪器发展的一个突出特点是:内部结构和控制系统复杂,而使用和操作却越来越简单。因此用已建立的方法和编好的程序进行日常分析比其他方法更容易掌握。
引用
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共 2 条
[1]  
X射线光谱分析.[M].谢忠信等 编著.科学出版社.1982,
[2]  
岩石矿物的X射线荧光光谱分析.[M].(苏)阿福宁(В.П.Афонин);(苏)古尼切娃(Т.Н.Гуничева)编;宋吉人;周国清译;.地质出版社.1980,