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粗糙面电磁散射的小斜率近似方法研究
被引:20
作者
:
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机构:
郭立新
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机构:
陈建军
韦国晖
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机构:
西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院陕西西安,陕西西安,陕西西安,陕西西安
韦国晖
吴春雨
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机构:
西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院陕西西安,陕西西安,陕西西安,陕西西安
吴春雨
机构
:
[1]
西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院,西安电子科技大学理学院陕西西安,陕西西安,陕西西安,陕西西安
来源
:
西安电子科技大学学报
|
2005年
/ 03期
关键词
:
小斜率近似;
基尔霍夫近似;
遮蔽效应;
电磁散射;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O441 [电磁学];
学科分类号
:
070208
[无线电物理]
;
摘要
:
采用小斜率近似方法研究了粗糙面的电磁散射问题,给出了小斜率近似下散射截面的级数展开,得到了满足高斯谱分布的导体粗糙面一阶,二阶,三阶小斜率近似双站散射截面结果.同时将小斜率近似与考虑遮蔽效应的基尔霍夫近似和有关实验测量结果作了比较.数值结果表明小斜率近似在整个入射角范围内较为准确,在散射角较大时与实际测量结果也较为吻合.
引用
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页码:408 / 413
页数:6
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