共 2 条
基于步进加速退化试验的电子产品可靠性评估技术
被引：23
作者：
贾占强
蔡金燕
梁玉英
韩春辉
机构：
[1] 军械工程学院光学与电子工程系
来源：
关键词：
步进加速退化试验;
伪失效寿命;
随机退化轨迹;
可靠性评估;
D O I：
暂无
中图分类号：
TB114.3 [可靠性理论];
学科分类号：
摘要：
为实现高可靠、长寿命产品的可靠性评估,提出了步进加速退化试验的新方法.首先给出了步进加速退化试验方法及其基本假设,然后探讨了步进退化数据向恒加退化数据的折算方法,在此基础上提出了基于伪失效寿命的步进加速退化可靠性评估算法和基于随机退化轨迹的步进加速退化可靠性评估算法,最后利用试验数据对该方法进行了验证.结果表明:与恒加退化试验相比,该方法可以极大地缩短试验时间和减少试验样本,因此,具有更高的效费比.
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页码：1279 / 1285
页数：7
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