工业大尺寸测量仪器的溯源现状及发展趋势

被引：120

作者：

马骊群 ^{[1
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王立鼎 ^{[1
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靳书元 ^{[2
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王继虎 ^{[2
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曹铁泽 ^{[2
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机构：

[1] 大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室

[2] 中国一航北京长城计量测试技术研究所

来源：

计测技术 | 2006年 / 06期

关键词：

大尺寸; 测量仪器; 溯源; 校准;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH711 [长度计量仪器];

学科分类号：

080401 [精密仪器及机械];

摘要：

大型工业产品及装备制造的信息化和全球化需要高精度大尺寸测量仪器作计量保障。本文介绍了现有工业大尺寸测量仪器的发展现状和应用特点,对现有的校准技术和溯源形式作了总结与分析,并展望了今后大尺寸测量仪器的溯源形式。

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共 1 条

[1]

Future challenges in co-ordinatemetrology: Addressing metrological problems for very small and very largeparts Schwenke H;Hartig F;Wendt K;Waldele F; Proc. of IDW Workshop 2001 2001,